Կազմի պատկեր

Advances in metrology and measurement of engineering surfaces select proceedings of ICFMMP 2019

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Prakash, Chander (Խմբագիր), Krolczyk, Grzegorz (Խմբագիր), Singh, Sunpreet (Խմբագիր), Pramanik, Alokesh
Ձևաչափ: Electronic Resource
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Singapore Springer Nature Singapore Pte Ltd. [2021]
Խորագրեր:
Electronic books.
Metrology > Congresses.
Measurement > Congresses.
Surfaces (Technology) > Congresses.
Առցանց հասանելիություն:Click here to access thru EZproxy
Click here to access

Նմանատիպ նյութեր