Obálka

Electrical overstress (EOS) devices, circuits, and systems

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Voldman, Steven H. (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Chichester, West Sussex, United Kingdom John Wiley & Sons Inc. 2014.
Témata:
Semiconductors > Failures.
Semiconductors > Protection.
Transients (Electricity)
Overvoltage.