Kapak Resmi

Characterization in silicon processing

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Strausser, Yale, Brundle, C. Richard, Evans, Charles A.
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: New York Momentum Press c2010.
Konular:
Silicon.
Electric conductors.
Semiconductor films.
Surface chemistry.